HAST高壓加速老化試驗機箱的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。用較少的時間就可完成對產品的濕度的測試。在100℃以上的溫度下，通過提高和增加壓力，可以模擬正常濕度測試，同時保持相同的故障機制。幾小時或幾天就能通過產品的老化測試，大大節(jié)省了產品開發(fā)周期。

　　HAST高壓加速老化試驗機箱,HAST高壓加速壽命試驗機參數(shù)：

　　濕度波動度 ≤±2.5 %R.H.

　　濕度均勻度 ≤±3.0% R.H.

　　壓力范圍 0.2～2㎏/㎝2 (0.05～0.196 MPa)

　　升溫時間 常溫 → + 143℃ 約45 min .

　　升壓時間 常壓 → + 2㎏/㎝2 約40 min.

　　溫度范圍 105℃ → +143℃.

　　溫度波動度 ≤±0.5℃.

　　溫度均勻度 ≤±2.0℃.

　　濕度范圍 75% ～ 100 %R.H .

　　HAST高壓加速老化試驗機箱/HAST高壓加速壽命試驗機標準：IEC60068-2-66; JESD22-A102-C; JESD22-A110-B;JESD22-A118;GB/T 2423.40-1997