PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱出貨海陽(yáng)電子廠

　　PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì),復(fù)合國(guó)家安全容器標(biāo)準(zhǔn),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中受過(guò)熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架,也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸免費(fèi)量身定制專(zhuān)用產(chǎn)品架。

　　PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱缺水時(shí)處置方法

　　1.當(dāng)設(shè)備缺水時(shí)，警示系統(tǒng)會(huì)以連續(xù)的警示聲告知。設(shè)備缺水分兩種情況：a、機(jī)器剛啟動(dòng)，工作時(shí)間未開(kāi)始計(jì)時(shí)，就水位不足，此種情況機(jī)器無(wú)法啟動(dòng);b、工作過(guò)程中，水位不足，此時(shí)機(jī)器會(huì)鳴叫警示并切斷電熱管，溫度會(huì)慢慢下降，但工作時(shí)間還會(huì)持續(xù)再進(jìn)行。

　　2.將水由注水口注入水箱。

　　3.工作程序會(huì)自動(dòng)繼續(xù)執(zhí)行。